語系:
繁體中文
English
簡体中文
查詢說明
意見反映
文化局
縣圖
鄉鎮市圖
電子書
數位資源
APP
網路辦證
登入
加入一證通
回首頁
切換:
標籤
|
MARC模式
|
ISBD
發明專利實體審查基準 = Substantive examination guidelines for invention patent (二)二
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
正題名/作者:
發明專利實體審查基準 = / / 張仁平著.
其他題名:
Substantive examination guidelines for invention patent (二)
作者:
張仁平
出版者:
臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2007[民96]
面頁冊數:
[9],370面 : 圖 ; 21公分
附註:
封面英文題名:Guidelines for substantive examination of invention patent(2)
標題:
專利 - 標準 -
ISBN:
9860076936 (平裝)
ISBN:
9789860076936 (平裝)
發明專利實體審查基準 = Substantive examination guidelines for invention patent (二)二
張仁平
發明專利實體審查基準 =
Substantive examination guidelines for invention patent (二)二 / 張仁平著. - 二版 - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2007[民96] - [9],370面 : 圖 ; 21公分 - 智慧財產培訓學院教材 ; 08.
封面英文題名:Guidelines for substantive examination of invention patent(2)
ISBN: 9860076936 (平裝) : 新臺幣450元Subjects--Topical Terms:
339398
專利
--標準
發明專利實體審查基準 = Substantive examination guidelines for invention patent (二)二
LDR
:00814nam 2200217 ir4500
001
368341
008
071217r2007uuuuch g f000 u chi d
017
$2
rocgpt
$a
1009600018
020
$a
9860076936 (平裝)
$c
: 新臺幣450元
020
$a
9789860076936 (平裝)
$c
: 新臺幣450元
035
$a
00459362
040
$b
chi
$d
彰化縣文化局
$e
CCR
066
$c
$1
084
$a
440.61
$b
4411
$2
ncsclt
100
1
$a
張仁平
$e
著
$3
339399
245
0 0
$a
發明專利實體審查基準 =
$b
Substantive examination guidelines for invention patent (二)
$c
/ 張仁平著.
$n
二
250
$a
二版
260
$a
臺北市 :
$b
經濟部智慧財產局,
$c
2007[民96]
300
$a
[9],370面 :
$b
圖 ;
$c
21公分
490
1
$a
智慧財產培訓學院教材 ;
$v
08
500
$a
封面英文題名:Guidelines for substantive examination of invention patent(2)
500
$a
含參考書目
500
$a
含附錄
650
7
$a
專利
$x
標準
$2
csht
$3
339398
筆 0 讀者評價
館藏地:
全部
縣圖閉架書庫
出版年:
卷號:
館藏(預設顯示全部,館藏地:下拉式選單可再查詢篩選!)
期刊年代月份卷期操作說明(Help)
1 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
備註欄
附件
31202003116550
縣圖閉架書庫
可借28天
閉架一般書
PB 440.61 4411 v.2
一般(Normal)
在架
0
1 筆 • 頁數 1 •
1
評價
新增評價
分享你的閱讀心得
建立或儲存個人書籤
書目轉出
取書館別
宅配地點選擇 (註:費用使用者自付,縣內運費新臺幣100元起,同一館每趟最多10件圖書。)
處理中
...
變更密碼
登入